Máy phân tích kim loại bụi khí bằng XRF
Máy kết hợp huỳnh quang tia X và đo khối lượng bụi, phân tích nhiều nguyên tố trên màng lọc. Dữ liệu theo thời gian kết hợp khí tượng hỗ trợ đánh giá nguồn ô nhiễm.
Ứng dụng
- Giám sát kim loại không khí
- Phân tích thành phần bụi
- Đánh giá nguồn ô nhiễm
Thông số kỹ thuật
| Phương pháp đo | XRF |
|---|---|
| Thông số đo | Pb, Cd, Hg, As, Cr, Cu, Zn, Ni, Fe, Mn |
| Dải đo | 0–100 μg/m³ |
| Giao diện | RS232; RS485; Ethernet; GPRS |
| Nguồn điện | <1500 W |
Thông số có thể khác nhau tùy model và cấu hình. Vui lòng liên hệ để xác nhận mức độ phù hợp với ứng dụng của bạn.
Wattwise Solutions LLC
56 White Blossom, Irvine, CA 92620, United States
+1 949-748-0422 | [email protected]
56 White Blossom, Irvine, CA 92620, United States
+1 949-748-0422 | [email protected]